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射頻導(dǎo)納物位計(jì)常見問題及解決方法
關(guān)鍵字：射頻導(dǎo)納物位計(jì),射頻導(dǎo)納液位計(jì),射頻導(dǎo)納料位計(jì) 日期：2014-9-11
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射頻導(dǎo)納物位計(jì)廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、電力、醫(yī)藥、食品、造紙、建材等工業(yè)領(lǐng)域。由于射頻導(dǎo)納物位計(jì)被測介質(zhì)是導(dǎo)電的，接地點(diǎn)可以被認(rèn)為在探頭絕緣層的表面，對物位計(jì)來說僅表現(xiàn)為一個(gè)純電容。隨著容器排料，探桿上產(chǎn)生掛料，而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現(xiàn)在變成了由電容和電阻組成的復(fù)阻抗，從而引起兩個(gè)問題：
第一個(gè)問題是液位本身對探頭相當(dāng)于一個(gè)電容，它不消耗變送器的能量，（純電容不耗能）。但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會(huì)消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來，導(dǎo)致橋路輸出改變，產(chǎn)生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個(gè)緩沖放大器，使消耗的能量得到補(bǔ)充，因而不會(huì)降低加在探頭的振蕩電壓。
第二個(gè)問題是對于射頻導(dǎo)納物位計(jì)的導(dǎo)電波測介質(zhì)，探頭絕緣層表面的接地點(diǎn)覆蓋了整個(gè)被測介質(zhì)及掛料區(qū)，使有效測量電容擴(kuò)展到掛料的頂端。這樣便產(chǎn)生掛料誤差，且導(dǎo)電性越強(qiáng)誤差越大。但任何被測介質(zhì)都不是完全導(dǎo)電的。從電學(xué)角度來看，掛料層相當(dāng)于一個(gè)電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當(dāng)于一條由無數(shù)個(gè)無窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。根據(jù)數(shù)學(xué)理論，如果掛料足夠長，則掛料的電容和電阻部分的阻抗相等。因此根據(jù)對掛料阻抗所產(chǎn)生的誤差研究，又增加一個(gè)交流驅(qū)動(dòng)器電路。射頻導(dǎo)納物位計(jì)電路與交流變換器或同步檢測器一起就可以分別測量電容和電阻。由于掛料的阻抗和容抗相等，則測得的總電容相當(dāng)于C+C掛料，再減去與C掛料相等的電阻R，就可以實(shí)際測量真實(shí)值，從而排除掛料的影響。
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